·XEMIS 磁悬浮天平（Magnetic Suspension Balance）使用Hiden 独特的外部感知技术(Exosensing Technology)，把敏感组件置于天平室外部
·用于腐蚀性气体测量时与其它磁悬浮天平所测试的气体和蒸气兼容
·操作压力是200bar，可在77–773K的全温度范围内操作
·独特设计的微量天平横梁安置在由金属VCR密封的低容室内
·对称设计的流量和浮力补偿
设计理念
这款精密设计的XEMIS 几乎在所有条件下都能进行相当精确、稳定的测量，即使在高温和高压条件下也不例外。此微量天平使用了Hiden Isochema的外部感知技术(Exosensing Technology)，所有的敏感元件都放置于天平室外部，以防止对天平的污染或腐蚀。微量天平横梁是磁力悬浮的，通过外部驱动(exodrive)和外部感知(exosensor)控制。把这些组件转移到天平室外部，使得内部体积小化，减少了气体消耗。
为了消除外部磁场的影响，这些外部传感器、外部驱动和微量天平横梁周围都有高导磁率的屏蔽，以消除外部磁场的干扰。微量天平室和控制装置都被安置在精确调节热量的防护壳中，消除外部温度波动的影响，以保持系统稳定。同IGA的设计一样，这对于高精度重力测量是必不可少的。
XEMIS天平是几何对称的，在高温高压时能够补偿浮力和流动力。这种设计的好处是无需重新校准或重新归零，同时微量天平一直很稳定，使得产生的相对误差极小，长期稳定性优于±5μG。
XEMIS微量天平的设计，本质上就比其他的磁悬浮天平设计更稳定。这意味着在进行精确测量时，XEMIS在长时间的测量过程中，具有良好的长期稳定性。
普通的磁悬浮天平一般有一个磁铁连接到样品架，然后再用电磁铁悬浮。磁铁引入了较大的浮力，因此存在更大的潜在误差。例如，为了满足高压测量，样品的尺寸就要更大一些。传统的磁悬浮天平设计在测量尺度上也存在明显的的漂移。要解决这个问题，天平就要定期重新机械调零，这个过程非常耗时，在吸附测量过程无法获得动力学数据。与此不同的是，XEMIS微量天平优异的长期稳定性意味着它的测量过程是连续的。
升级
XEMIS可作为一个独立的天平使用，它包含Hiden Isochema控制软件，能记录动力学数据与吸附性能，也可以与客户现有的气体输送系统联用。
Hiden也可以为XEMIS提供用于吸附研究的自动化气体输送系统，这样XEMIS就可以做为全自动吸附仪使用。如果配置了Hiden的气体输送系统，XEMIS就能实现完全自动的可编程操作，包括气体入口之间的自动转换。在一个温度范围内，可以对不同的吸附物进行多个等温线编程和自动测量。
XEMIS通过与IMI高压容积法吸附仪系统的结合，能够适应特殊的应用，可量身定做出客户需要的重量/体积吸附解决方案。
