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北京中慧天诚科技有限公司

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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    品牌：centrwin 围观：87次 产地：北京 产品详情
  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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    品牌：centrwin 围观：91次 产地：北京 产品详情
  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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    品牌：centrwin 围观：95次 产地：北京 产品详情
  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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    品牌：centrwin 围观：105次 产地：北京 产品详情
  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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    品牌：centrwin 围观：73次 产地：北京 产品详情
  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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    品牌：centrwin 围观：84次 产地：北京 产品详情
  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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  • 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS
    离子迁移普仪 型号：SDL-IMS

    简介:离子迁移普仪型号：SDL-IMS货号：ZH4103产品简介:是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度...

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