所有产品
产品总数：1583
可携带台式分析检测仪Innov-X X-50
简介:XRF的革命延续到了早期的制造商针对现场XRF分析的便携式的XRF：X-50移动式XRF。X-50独特的轻便设计可以满足迅速增长的对于台式机分析能力的需要，X-50移动式XRF提供了在小型XRF手持式XRF不可能拥有的大功率和高性能。在达25次的手持式XRF测试中，作为一种技术等级的XRF，X-50达到了...
￥9870
Lab-X3500SCl(X射线荧光光谱仪)
简介:Lab-X3500SCl利用新技术测量油品中的硫下限低至3ppm(mg/kg)，主要特点有：容易检测低含量硫、氯出厂前校准，用户使用前无需再校准无需氦气安装简单，只需系统供电操作不受周围环境变化影响样品温度不会影响检测结果Lab-X3500SCl符合下列标准规格：ISO20847,ISO8754,ASTMD4294和IP3...
￥380
Lab-X3500SCl(X射线荧光光谱仪)
简介:Lab-X3500SCl利用新技术测量油品中的硫下限低至3ppm(mg/kg)，主要特点有：容易检测低含量硫、氯出厂前校准，用户使用前无需再校准无需氦气安装简单，只需系统供电操作不受周围环境变化影响样品温度不会影响检测结果Lab-X3500SCl符合下列标准规格：ISO20847,ISO8754,ASTMD4294和IP3...
￥380
Twin-X(X射线荧光光谱仪)
简介:Twin-X结合了两种已获得广泛应同的牛津探测器技术：FOCUS5+探测系统和PIN探测器技术。其轻便紧凑的一体化设计和空前的多用途与高性能，使其荣获IBO(InstrumentBusinessOutlook)工业设计奖。两种探测器技术的组合可以达到对元素周期表种中不同位置的元素更全面的检测。其中FOCUS5+技...
￥380
X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪X-Strata980
简介:X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保...
￥380
RoHS分析仪X-MET3000TXR+
简介:牛津仪器发布了新型号的X-Met3000TXR+手持式XRF光谱仪采用X射线管作为激发源；轻便、快捷；可实现快速、可靠的RoHS条例筛选分析；专门为测量塑料、焊料和印刷线路板中的重金属含量而设计。牛津仪器的手持式X-Met3000TXR+是一款使用方便、安全可靠的无损分析工具，针对RoHS条例对塑...
￥3890
手持式X射线XRF元素分析仪荧光光谱仪X-MET5000
简介:新款手持式X射线荧光光谱仪，可满足各种苛刻的元素分析要求。牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式X射线荧光光谱仪(XRF)，该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。牛津仪器的手持式X射线荧光光谱仪誉满，X-MET5000是其第四代产品。这款全新的光谱仪拥有高性能和高可靠性，它综合了...
￥380
X射线荧光光谱仪Lab-X3500
简介:Lab-X3000取得巨大成功的基础上，牛津仪器公司推出型的台式能量色散X射线荧光光谱仪Lab-X3500。它把牛津仪器多年来设计生产X射线荧光光谱仪的经验和的硬件、软件技术的进展结合起来，是一种独特的、高性能的多元素台式X射线荧光光谱仪。Lab-X3500中采用了牛津独特的FOCUS5技术，实...
￥380
带温度补偿功能的面铜测厚仪CMI-165
简介:CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。-可测试高温的PCB铜箔-显示单位可为mils，m或oz-可用于铜箔的来料检验-可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试-可用于电镀铜后的面铜厚度测试-配有SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头-可用于蚀刻后线路上的...
￥3890
便携面铜厚度测试仪CMI563
简介:CMI563表面铜厚测试仪专为测量刚性或柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。CMI563测厚仪采用微电阻测试技术，提供了准确和精确测量表面铜铜厚（包括覆铜板、化学铜和电镀铜板）的方法。由于CMI563测厚仪采用了市场上为先进的测试技术，印刷电路板背面铜层不会对...
￥3890
PCB专用铜厚测试仪CMI760
简介:CMI760测厚仪专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。CMI760测厚仪可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI760台式测厚仪具有非常高的多功能性和可扩展性，对...
￥3890
X荧光镀层测厚仪CMI900
简介:CMI900镀层测厚仪特点：精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片服务及支持技术参数主要规格规格描述X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-...
￥3890
X荧光镀层测厚仪X-Strata960
简介:X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计：新100瓦X射线管-市场上所能提供的强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间更小的X射线光斑尺寸-新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及...
￥380
X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪X-Strata980
简介:X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保...
￥380
OSP镀层测厚仪OSPrey800
简介:OSPrey800@仪器利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。无需准备样品，可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。OSPrey800@仪器在检测过程中不会对PCB/PWB板产生不利影响。通过进行PCB/PWB上OSP镀层厚度的定量、完整性、可靠性及膜层形态的细致分析，进而检验OSP镀层的应用可靠性。检测...
￥380
X射线荧光光谱仪Lab-X3500
简介:型的台式能量色散X射线荧光光谱仪Lab-X3500。它把牛津仪器多年来设计生产X射线荧光光谱仪的经验和的硬件、软件技术的进展结合起来，是一种独特的、高性能的多元素台式X射线荧光光谱仪。Lab-X3500中采用了牛津独特的FOCUS5技术，实现了对目标元素的激发和目标元素的选择性检测；因而...
￥380
便携式涂层测厚仪CMI-150
简介:双功能技术的测厚仪，完成磁感应和电涡流测量自动转换CMI150测厚仪应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。CMI150测厚仪可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。测厚仪电涡流测试方法应用包括...
￥380
便携式涂层测厚仪CMI-200
简介:CMI200涂层测厚仪特点：测厚仪精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能232接口，可连接打印机或电脑可选配90度直角探头带有扫描测量模式测量范围宽NIST认证的标准片技术参数小测量面积0～3000m(F)；0～2000m(N)误差3%分辨率0.1um小曲率半径5mm(凸)；25mm(凹)小测量面积20mm小基体...
￥380
台式涂镀层测厚仪CMI-700
简介:CMI700测厚仪能同时为磁性基材上的非磁性涂/镀层、导性基材上的非导性涂/镀层，以及磁性基材上的电镀镍层提供高科技的无损涂镀层厚度检测。CMI700测厚仪所使用的大型带背光的液晶显示器，保证您能从任意角度以及较远的距离轻松观察到这台测厚仪测量的数据和结果，并能在短的时间内...
￥380