北京九州晟欣科技有限公司

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产品总数：17

两探针电阻率测试仪

简介:两探针电阻率测试仪JZ-KDY2产品简介两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国标准仪器采用GB/T1551-1995硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适用于测量横截面积均匀的圆形、方形、或矩形单晶锭的电...

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数字式硅晶体少子寿命测试仪

简介:公司网址;http://www.jzyq18.comJZ-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪产品简介为了解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMIMF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制...

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全类型整流法导电型号测试仪

简介:JZ-STY2R全类型整流法导电型号测试仪产品简介导电型号测试仪是严格按照国际标准SEMIMF42-1105及标准GB/T1550中的全类型整流法设计生产。由于将三根测试探针做成测量探头，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低...

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导电型号测试仪

简介:JZ-STY3导电型号测试仪产品简介导电型号测试仪是严格按照国标GB/T1550-1997和ASTMF42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导...

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数字式四探针测试仪

简介:JZ-RTS8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直...

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品牌：九州空间 围观：182次 产地：北京 产品详情

数字式四探针测试仪

简介:JZ-RTS4型数字式四探针测试仪JZ-RTS4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分...

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四探针测试仪生产

简介:JZ-SDY4型四探针测试仪JZ-SDY4型四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器.仪器以大规模集成电路为核心部件,采用平面轻触式开关控制,及各种工作状态LED指示.应用微计算机技术，利用HQ-710E型测量数据...

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品牌：九州空间 围观：459次 产地：北京 产品详情

便携式四探针测试仪

简介:JZ-RTS2/JZ-RTS2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。仪器采用了电子技术进行设计...

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品牌：九州空间 围观：282次 产地：北京 产品详情

手持式四探针测试仪

简介:JZ-RTS3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。仪器采用了电子技术进行设计、装配。具...

￥12800

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双电测四探针测试仪

简介:JZ-SDY5型双电测四探针测试仪JZ-SDY5型双电测四探针测试仪采用了四探针双位组合测量技术,利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，从而提高了测量结果的准确度使用本仪器进行测量时，由于...

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二探针测试仪

简介:JZ-RTS7型二探针测试仪是运用二探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料纵向电阻率的专用仪器。仪器由主机、测试台、二探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控...

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探针测试仪

简介:JZ-102A型探针测试台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。技术指标：工作台面370mm*245mm载物台直径4"放大倍数50倍、100倍，固定倍数；监视方式显微镜光学参数手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围...

￥22800

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探针测试仪武汉现货

简介:JZ-102B型探针测试台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。技术指标：工作台面370mm*245mm载物台直径4"放大倍数10-100倍连续变倍；监视方式CCD摄像头、监视器；光学参数手轮调焦范围：60mm；升降...

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四探针测试仪

简介:JZ-102C型探针测试台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。技术指标：工作台面370mm*245mm载物台直径4"放大倍数50倍、100倍，固定倍数；监视方式显微镜和USB接口CCD摄像头共存的监视方式光学参数...

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探针测试仪+JZ-102D型+探针台

简介:JZ-102D型探针测试台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。技术指标：工作台面370mm*245mm载物台直径4可选二种放大倍数*14-90倍连续变倍；*17.5-112.5倍连续变倍；光学参数手轮调焦范围：60mm；...

￥38000

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探针测试仪生产

简介:JZ-102E型探针测试台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。技术指标：工作台面370mm*245mm载物台直径4"可选二种放大倍数*14-90倍连续变倍；*17.5-112.5倍连续变倍；监视方式显微镜和USB接口CCD摄...

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数字式四探针测试仪

简介:JZ-RTS8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直...

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品牌：九州空间 围观：214次 产地：北京 产品详情