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X荧光谱仪 X-550 XRF 分析仪

X荧光谱仪  X-550 XRF 分析仪
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X-550 XRF 分析仪
高教
详细说明

  应用

  无损检测PMI

  • 在 1 秒内以出色的精度为大多数合金提供 PMI。

  • 针对残留物和硫化物腐蚀等关键 PMI 应用进行了优化。

  • 专为 NDT 设计,PMI 用户可以访问难以到达的测试位置和焊缝。

  报废处理

  • 非常适用于高温合金和贵金属。

  • 采用铝应用程序:在 1-2 秒内对所有铝合金进行分类。

  • 污染物磷和硫

  • 针对常见杂质元素的低检测限进行了优化

  采矿业

  • X-550 用于地球化学 可以快速地分析矿石/土壤样品中的低原子序数元素,包括 Mg、P、S、Al、Si、Ca 和 K。

  土壤

  • X-550 可能配备了用于 环境土壤元素分析. 分析包包括 8 种 RCRA 金属和 11 种 EPA 优先污染物金属中的 12 种(铍除外 – 为此使用我们的 LIBS). X-505 符合长期有效的 EPA 方法 6200。

  RoHS 应用

  • X-550 可与我们的 RoHS 和无卤素应用,提供对 RoHS 元素 Pb、Cd、Br、总 Cr 和 Hg 以及 Cl 的快速、精确分析,以满足无卤要求。

  一般分析

  • X-505 可以配备我们的经验应用程序,允许用户设置独特的光束条件、定义感兴趣的特定元素并创建自定义校准。 对于合金、矿石和聚合物领域之外的分析要求,X-505 plus Empirical App 为独特或专有的分析要求提供了完全的灵活性。 

  重量

  2.98 磅。 (1.35 千克)含电池

  激发源

  40 kV、200 uA Rh 阳极和 10kV、500 uA 用于合金测试,50 kV、200 uA Au 阳极用于大多数其他应用。

  校准

  基本参数。 对于地球化学和环境土壤应用程序,用户还可以选择“康普顿归一化”方法和/或使用根据经验得出的校准。

  尺寸

  8.5x9.5x2.4英寸

  探测器

  20 mm2 硅漂移检测器(有源区),140 eV 分辨率 FWHM,5.95 Mn K-alpha 线。

  校准检查

  用于校准验证和能量秤验证的外部 316 不锈钢检查标准。

  电力

  板载可充电锂离子电池,可在设备内部或使用外部充电器充电,交流电源,热插拔能力(长 60 秒插拔时间)。

  X 射线过滤

  用于光束优化的 4 位滤光轮。

  分析范围

  32 元素标准,具体元素因应用程序而异。 可以根据用户请求添加其他元素。

  屏 显:

  2.7 英寸彩色电容式触摸屏,400 MHz Qualcomm Adreno 306 2/D/3D 图形加速器。 后置显示屏便于查看结果,在所有条件下都可读。

  处理电子和主机处理

  1.2GHz 四核 ARM Cortex A53 64/32 位,RAM:2GB LP-DDR3,存储:16 GB eMMC(存储)。

  可用应用

  合金、快速铝、采矿、土壤、贵金属、汽车催化剂、RoHS、经验、HUD 含铅涂料。 定期添加新应用程序。

  安全性

  密码保护使用(用户级别)和内部设置(管理员)。

  脉冲处理器

  12 位,数字化速率为 80 MSPS 8K 通道 MCA USB 2.0,用于向主机处理器进行高速数据传输。 在 FPGA 中实现的数字滤波用于高吞吐量脉冲处理 20 nS – 24 uS 峰值时间。

  等级库

  标准库包含 500 多个等级,没有实际大小限制。 支持多个库,可以在分析仪上或通过 PC 软件包 (ProfileBuilder) 添加等级。

  监管

  CE、RoHS、USFDA 注册、加拿大 RED 法案。

  环境温度范围

  10% 占空比时 130°F 至 25°F。

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