BW-IFSM/ITSM 二极管浪涌测试系统

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品　　牌：博微

产品型号：BW-IFSM/ITSM

制造厂商：陕西博微电通科技有限责任公司

适用范围：高教 职教

所在地区：陕西 西安

BW-IFSM/ITSM

 二极管浪涌测试系统

　　产品简介：

　　可用于各类二极管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌电流（IFSM）试验，包括三极管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌测试。

　　二极管元件在实际使用中，除了能长期通过额定通态平均电流外，还应能承受一定倍数的浪涌过载电流而不致损坏，以便适应在各种应用中的要求。二极管浪涌过载电流如果超过其允许范围，轻者引起元件性能变坏（如伏安特性、通态峰值电压的变化），重者造成烧毁穿通而失去反向阻断能力。通过浪涌过载电流测试合格的器件，可以大大提高其在使用中的可靠性。

　　技术指标：

　　> 浪涌电流（IFSM/ITSM）调节范围：0.30～3.60kA

　　> 分辨率0.01kA，精度±3%±0.01kA

　　> 电流波形：正弦半波，底宽10ms

　　>  测试频率：单次

　　> 反向电压（VRRM）调节范围：0.20～2.00kV，分辨率0.01kV，精度±5％

　　>  反向电压测试频率：50Hz；

　　> 反漏电流（IRRM）测试范围；1.0～100.0mA，分辨率0.1mA，精度±5％±0.1mA

　　工作方式：

　　> 由触摸液晶屏设定浪涌电流大小、反向电压值及反向漏电流保护值

　　>  按测试按键后设备自动完成测试

　　外形尺寸：

　　> 600×800×1900×1（宽×深×高×并柜数，单位：mm）

　　系统说明：

　　> 上述设备配置输出及测试线,但不含测试用“夹具”。该“夹具”用于满足元件按照标准进行测试时所要求的温度和压力测试条件。