BW-3010B 晶体管光耦参数测试仪（双功能版）

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产品报价： ￥100110元

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品　　牌：博微

产品型号：BW-3010B

制造厂商：陕西博微电通科技有限责任公司

适用范围：高教 职教

所在地区：

　　BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。

　　产品电气参数：

　　产品信息

　　产品型号：BW-3022A

　　产品名称：晶体管光耦参数测试仪；

　　物理规格

　　主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)

　　主机重量：＜4.5Kg

　　主机颜色：白色系

　　电气环境

　　主机功耗：＜75W

　　环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；

　　相对湿度：≯85%；

　　大气压力：86Kpa～106Kpa；

　　防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；

　　电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

　　工作时间：连续；

　　服务领域：

　　应用场景：

　　?选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）

　　?检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）

　　产品特点：

　　?大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单

　　?大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.

　　?全部可编程的DUT恒流源和电压源.

　　?内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.

　　?高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V；

　　?重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；

　　?软件自校准功能；

　　?自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；

　　?DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；

　　?两种工作模式：手动、自动测试模式。

　　BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系

　　BW-3010B测试技术指标：

　　1、光电传感器指标:

　　输入正向压降(VF)

　　反向电流(Ir)

　　集电极电流(Ic)

　　输出导通压降(VCE(sat))

　　输出漏电流(Iceo)

　　2、光电耦合器：

　　耐压(VCEO)测试指标

　　输入正向压降(VF)

　　反向漏电流(ICEO)

　　反向漏电流(IR)

　　电流传输比(CTR)

　　输出导通压降(VCE(sat))

　　可分档位总数：10档

　　BW-3010B测试定义与规范：

　　AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.

　　VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.

　　Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.

　　Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.

　　CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。

　　CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。

　　Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。

　　Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。