高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
技术规格：
型号 | TSD-36F-2P | TSD-80F-2P | TSD-100F-2P | TSD-150F-2P | TSD-252F-2P | TSD-480F-2P |
箱体容量（L） | 36L | 49L | 100L | 150L | 252L | 480L |
内箱尺寸 | W350*D300*H350mm | W400*D350*H350mm | W400*D500*H500mm | W600*D500*H500mm | W700*D600*H600mm | W850*D800*H600mm |
外箱尺寸 | W1630*D1650*H1820mm | W1680*D1700*H1820mm | W1680*D1850*H2120mm | W1880*D1850*H2120mm | W1980*D2100*H2320mm | W2130*D2300*H2320mm |
高温室 | +60℃~+150℃ | |||||
升温时间 | 升温+60℃~+150℃≦25min （注：升温时间为高温单独运转时的性能。） | |||||
低温室 | -60℃~-10℃ | |||||
降温时间 | 降温+20℃~+60℃≦60min（注：降温时间为低温室单独运转的性能。） | |||||
温度冲击范围 | +60℃到+150℃ 冲击 -40℃到-10℃ | |||||
温度波动度 | ±0.5℃ | |||||
温度偏差 | ±2.0℃ | |||||
温度恢复时间 | ≦5min | |||||
切换时间 | ≦10sec | |||||
噪音 | ≦65db | |||||
外壳材料 | 防锈处理冷轧钢板+2688粉体涂装 或SUS#304不锈钢 | |||||
内箱材料 | SUS#304不锈钢 CP种+2B抛光处理 | |||||
冷热冲击试验箱满足的试验方法:
GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;
4、国军标GJB150.3-86;
5、国军标GJB150.4-86;
6、国军标GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86温度冲击试验;
8、GJB360.7-87温度冲击试验;
9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
11、GB/T 2423.22-2002温度变化;
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;
13、EIA364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
