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中图仪器品牌光学3D表面轮廓仪 SuperViewW1 微纳米三维形貌快速测量

中图仪器品牌光学3D表面轮廓仪 SuperViewW1 微纳米三维形貌快速测量
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产品报价: 960000
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中图仪器
SuperViewW1
深圳市中图仪器股份有限公司
高教
广东 深圳 南山区
详细说明

  中图仪器SuperViewW系列光学3D表面轮廓仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它是以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:

  表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);

  几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。

  光学3D表面轮廓仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。

  产品功能

  (1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;

  (2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;

  (3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;

  (4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;

  (5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;

  (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。

  应用领域

  对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

  SuperViewW系列光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。测量单个精密器件的过程用时2分钟以内,确保了高款率检测,具有测量精度高、操作便捷、功能全、测量参数涵盖面广的优点。它特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。

  部分技术指标

型号

W1

光源白光LED
影像系统1024×1024
干涉物镜

标配:10×

选配:2.5×、5×、20×、50×、100×

光学ZOOM

标配:0.5×

选配:0.375×、0.75×、1×

标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)

XY位移平台

尺寸320×200㎜
移动范围140×100㎜
负载10kg
控制方式电动
Z轴聚焦行程100㎜
控制方式电动
台阶测量
可测样品反射率0.05%~100
主机尺寸700×606×920㎜

  如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。

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