F50薄膜厚度均匀性测量仪
依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
产品名称：F50薄膜厚度测量仪
品牌：Filmetrics
产品型号：F50
产地：美国
自动化薄膜厚度绘图系统
依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
可测样品膜层
基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：
量测原理
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,我们可以判断我们可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（愈多的震荡代表较大的厚度）。而其他的材料特性如折射率与粗糙度也能同时测量。
FILMeasure软件提供两种分析模式：
Sepectru-Matching与FFT。在Spectrum-Matching模式中，您可以分析厚度与折射率。反正，FTT模式虽然只能测量厚度，但在较厚的薄膜厚度测量，FFT的分析能力更为健全。
FILMapper软件-自动测量
测绘图案绘制
用户能随心所欲的绘制所需的图案，操作功能方便省时
测绘图案参数：
?圆形/方形
?放射状
?中心或边缘排除
?点位密度
2D和3D的测绘
不论是反射率，厚度还是折射率的测量，都可以用2D或3D呈现。测绘结果能依不同的需要做调整，参数设定简单容易。测绘图能从不同的角度检视。
