透明/半透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1
简介：
Lumina AT1可以在4分钟内完成150毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。
样品300 x 300 mm。
厂商简介
Lumina Instruments，总部位于美国加利福尼亚州圣何塞，公司创始人在透明、半透明和不透明基板全表面缺陷检测创新了更快速准确的方法，因此创建了革命性的仪器品牌lumina.
技术创新
收集的数据将被分析，图像和缺陷图将由LuminaSoft软件生成。感兴趣的缺陷可在扫描电子显微镜（SEM）、椭偏仪、显微镜等上进行进一步分析。
将样品放入系统
直径为30微米的绿色激光以50毫米的直线运动，反射光和散射光由四个探测器捕获。
四通道检测
AT1有四个检测通道。它们同时运行以生成四个独立的图像。每个通道有助于检测和分类某些缺陷。
极化：薄膜缺陷、污渍反射率：划痕、内应力*、玻璃内的条纹*坡度：划痕、凹坑、凸起、表面形貌暗场：纳米颗粒、包裹体
Lumian AT1和AT1-Auto:AT1采取的样品的尺寸为300mm，AT1-Auto采取样品的尺寸为200mm。光斑的大小都在30μm。灵敏度(PSLon玻璃)在150nm;扫描的出结果的时间在4/7/15.5min。
AT1应用案例：
l 透明/非透明材质表面缺陷的检测。
l MOCVD外延生长成膜缺陷管控
l PR膜厚均一性评价
l Clean制程清洗效果评价
l Wafer在CMP后表面缺陷分析
l 多个应用领域，如ARVR、Glass、光掩模版蓝宝石、Si wafel等、
产品规格：
AT1
系统规格
扫描时间:3分钟内扫描150mm晶圆
扫描范围:300 x 300mm
灵敏度: 薄膜缺陷<0.5nm
颗粒，硅上100nm PSL
颗粒，玻璃上150nm PSL
标刻:金刚石标刻
温度:18-30摄氏度
电压:120/230VAC
电流:6A/4A
重量:370Kg(815榜)
尺寸:880 x 743 x2005mm
(34.6 x29.2x79英寸)
