SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的**光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。
功能：
■ 光谱响应度
■ 单色光/变功率IV；
■ 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）
■ 不同偏压下的IT曲线
■ LBIC，Mapping
■ 线性度测试
■ 响应速率测试
■ 瞬态光电压（载流 子迁移率）
■ 瞬态光电流（载流子扩散长度）
光源选项
卓立汉光根据样品光谱相应范围选择适合的光源，如EQ 光源，氙灯光源，氙灯溴钨灯复合光源。
EQ光源
特点：
■ 光谱范围宽：190-1700nm宽光谱范围；
■ 光源本身发光点小，百微米级别；
■ 紫外波段亮度高；
■ 寿命长，理论寿命可达9000h；
■ 体积小，重量轻；散热好；
氙灯光源
特点：
■ 光谱范围宽：250-1700nm宽光谱范围；
■ 光源本身发光点较小，mm级别；
■ 总功率大，亮度高；适合紫外-可见-近红外光谱测试；
■ 灯泡更换简单，成本低；
氙灯卤素灯双光源
特点：
■ 光谱范围：250-2500nm
■ 适合紫外、可见、近红外，且可见、近红外波段光谱平滑
■ 灯泡更换简单，成本低。
数采选项
测试案例
