进口介质损耗测试仪
GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪
满足标准：
GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法
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一、产品概述
本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。
本测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。
二、性能特点
1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。
2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。
3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。
5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。
三、技术指标
技术指标
1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）
2、相对湿度：20%～80%
3、供电电源：电压：220V±10%
4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm
5、重量：16kg
6、输出功率：1.5KVA
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：
tgδ：99.9%
Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF
2.5KV Cx＜0.3uF
0.5KV Cx＜1.5uF
外接试验电压：
由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%
电容容量（Cx）：1.5%±1pF
11、分辨率： tgδ：0.01%
Cx ：0.1pF
12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM
四、配套清单
序号 | 名称 | 数量 | 单位 |
1 | 介损自动测试仪 | 1 | 台 |
2 | 高压输出屏蔽电缆 | 1 | 根 |
3 | 试品输入电缆 | 1 | 根 |
4 | AC 220V/10A电源线 | 1 | 根 |
5 | 打印纸 | 2 | 卷 |
6 | 保险管5A | 4 | 支 |
7 | 接地线 | 1 | 根 |
8 | 出厂检验报告 | 1 | 份 |
9 | 产品说明书 | 1 | 份 |
五、电极选择
选择不同的电极测试固体和液体材料
1、 固体材料电极直径分别有:38mm 50mm 100mm,随机标配一套电极100MM
(也可以根据试样规格进行订制)
2、 测试液体需要容量为：15cm３
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用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。
阴极蒸发或高真空蒸发金属电极
假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。
汞电极和其他液体金属电极
把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。
伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。
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试样的几何形状
测定材料的电容率和介质损耗因数，zui好采用板状试样，也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时，的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。
需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF
加到试样上的电极
电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式
对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。
试样上不加电极
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