介电常数和介质损耗测试仪
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
三、性能特点
■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
四、简要介绍
测试材料：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
五、随机配置
1、主机：1台
2、测试电极：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
六、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步进 | |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
介电常数和介质损耗测试仪
液体介电常数测试仪
GCSTD-F
技术参数：1、测试量程：两个量程：1~20和1~200
2、jue对准确率误差优于±2%，
3、重复性和线性优于±0.2%
4、外置圆柱形电极（探头）信号
5、测量频率：10kHz频率正弦波
6、在量程1~20的范围内均方根振幅约为7伏特
7、量程1~200时为0.7伏特主要特点：电极结构是开放的，容易清洗。它是由两个用316不锈钢制造的精密圆筒构成的。圆筒间距是通过六个尼龙螺丝固定的。如果电极初次用于低介电常数的烃类液体，我们推荐在丙酮或乙醇溶剂中搅动清洗电极，然后用清洁空气轻微干燥。任何残留在电极上的液体都会影响测量的准确性。如果用电极测量特殊组分液体，则清洗以前被干燥在筒壁上的任何可能的残液是非常重要的。去除这些残留物的zui有效方法是将电极浸没在相应溶剂中用超声波清洗器清洗。因为电极材料是不锈钢，尼龙和特富龙，所以几乎可以用任何溶剂清洗。
注意：电极不能被分解清洗！测量准确度完全依赖于电极几何空间的保持，拆解和重新组装将不可避免地引起其空间结构的变化。
介电常数和介质损耗测试仪
自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。
高温介电测量系统用于高温下材料的介电性能测量与分析，包括介电常数、介质损耗、电容等参数。系统软件也可以测量其它阻抗参数。
完全整合的研究系统，可用来测试从绝缘体到超导体的大部分材料的电学性质。此测试系统即提供时域技术，如恒定电流，通过脉冲电压和扫描电压（I-V）确定材料的电学性能；又提供AC技术如阻抗、电容、C-V或者Mott-Schottky来提供更多细节信息进一步分析材料的导电机理。
系统使用圆柱型电极方法测量介电参数，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。
安捷伦的xin阻抗分析仪是业界唯yi能在 20 Hz ~ 3 GHz 频率范围内对毫欧姆到兆欧姆的所有元器件执行高精度测量的仪器，因而能够轻松评估高质量元器件的真实特征。
介电常数和介质损耗测试仪
