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介质损耗测试装置

介质损耗测试装置
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北京冠测
GCSTD-A
北京冠测精电仪器设备有限公司
高教
北京 昌平区
化工大学
详细说明

  介质损耗测试装置

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

  一、满足标准:

  GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

  GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

  ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

  二、方法概述

  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

  三、主要用途:

  主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)

  四、应用对象:

  该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

  五、技术指标:

功能名称:

GCSTD-A

GCSTD-AI

GCSTD-B

信号源范围DDS数字合成信号

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

10KHZ-160MHz

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

16000:1

信号源频率精度6位有效数

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

Q测量范围

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

<5%

<5%

<5%

电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

电感测量误差

<5%

<5%

<5%

调谐电容

主电容30-540pF

主电容30-540pF

主电容17-240pF

电容直接测量范围

1pF~2.5uF

1pF~2.5uF

1pF~25nF

调谐电容误差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

谐振点搜索

自动扫描

自动扫描

自动扫描

Q合格预置范围

5-1000声光提示

5-1000声光提示

5-1000声光提示

Q量程切换

自动/手动

自动/手动

自动/手动

LCD显示参数

FLCQ,Lt,Ct波段等

FLCQ,Lt,Ct波段等

FLCQ,Lt,Ct波段等

自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能(独创)

大电容值直接测量显示功能(独创)

测量值可达2.5uF

测量值可达2.5uF

测量值可达25nF

介质损耗系数

精度 万分之五

精度 万分之五

精度 万分之五

  备注说明:

  三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号

  六、电极规格

  固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm  

  液体:测量极片直径Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

  粉体:测量极片直径Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

  试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM

  七、产品配置:

  1、测试主机:一台

  2、测试电感:9个

  3、测试夹具:1套(标配固体测试夹具一套)

  八、其它规格:

  1、环境温度:0℃~+40℃;

  2、相对湿度:<80%;

  3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

  4、消耗功率:约25W;

  5、净重:约7kg;

  6、外型尺寸:(长宽高):380×280×132(mm)

  九:9个电感规格:

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

GCSTD/A/AI

GCSTD-B

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

介质损耗测试装置

  介质损耗测试装置

  测试夹具参数:

  平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选  

  极片间距可调范围:≥15mm 

  2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 

  3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 

  4.测微杆分辨率:0.001mm

  相关介绍

  介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。 介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关。

  一些物质介电常数具有复数形式,其实部即为介电常数,虚数部分常称为耗散因数。

  通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切,其可表示材料与微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时,波的速度被减小,波长也变短了。

  介电常数介质损耗测试仪适用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

  介电常数及介质损耗测定仪双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。介电常数及介质损耗测定仪自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。介电常数及介质损耗测定仪计算机自动修正技术和测试回路化 —使测试回路 残余电感减至低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。电感测试时,设备自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能,提高了电感值(特别是小电感值)测量的精度。此功能为北京中航时代公司生产的Q表独创。大电容值直接测量显示功能,电容值直接测量值可达2.5uF/25nF(配100uH电感时)。此功能为北京中航时代公司生产的Q表独创。

  介质损耗测试装置

  6.一般测量考虑

  6.1 边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量,以及相同电极系统的真空电容(或空气电容,适用于多数实际用途)测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量,要求采用两个测定值来计算电容率,而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时(它们将包含在测量读数中),变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合,边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。除了要求的直接电极之间电容Cv之外,在终端a-a'看到的系统包括以下内容:

  数显式微杆;

  平板电容器;

  极片尺寸: 38mm/50mm(二选一);

  极片间距可调范围:≥15mm;

  夹具插头间距:25mm±0.01mm;

  夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz);

  测微杆分辨率:0.001mm;

  测试极片:材料测量直径Φ38mm/50mm,厚度可调 ≥ 15mm;

  液体杯(选配:测试液体时候需要):测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm;

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