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全自动抗干扰异频介质损耗测试仪

全自动抗干扰异频介质损耗测试仪
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北京冠测
GCSTD-B
北京冠测精电仪器设备有限公司
高教
北京 昌平区
科技大学
详细说明

  全自动抗干扰异频介质损耗测试仪

高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

  一、满足标准:

  GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

  GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

  ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

  二、试验方法:

  接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

  非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料

  电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)

  液体电极-液体容量15ml

  粉体电极-根据样品量可配专用电极

  试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物

  五、随机配置

  1、主机:1台

  2、测试电极:1套

  3、数据线:1套

  4、电源线:1根

  5、合格证:一份

  6、测试系统:一套

  六、技术参数

测试参数

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率

20 Hz~2MHz,10mHz步进


测试信号电

f≤1MHz

10mV~5V,±(10%+10mV)

f>1MHz

10mV~1V,±(20%+10mV)

输出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度

0.1%

L

0.0001 uH ~ 9.9999kH


C

0.0001 pF ~ 9.9999F


R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ


显示范围

Y, B, G

0.0001 nS ~ 99.999 S

D

0.0001 ~ 9.9999


Q

0.0001 ~ 99999


θ

-179.99°~ 179.99°


测量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能

开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式

串联方式, 并联方式

量程方式

自动, 保持

显示方式

直读, Δ, Δ%

触发方式

内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏

电压模式

-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源

电流模式(内阻为50Ω)

-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能

10档分选及计数功能

显示器

320×240点阵图形LCD显示

存储器

可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)


USB HOST(FAT16 and FAT32 support)


接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB(选件) 

全自动抗干扰异频介质损耗测试仪

  全自动抗干扰异频介质损耗测试仪

  三、可测试参数

  仪器可测量下列参数并数字显示:

  被测试品的电容量值CX,以pF或nF为单位,1nF=1000pF。

  被测试品的介质损耗值tgδ,以%显示。

  被测试品的电阻值R,以MΩ为单位

  施加试品的电压值V,以kV为单位。

  试验频率F,单位Hz。

  四、性能特点

  1、仪器采用复数电流法,测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高,便于实现自动化测量。

  2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

  3、仪器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

  4、仪器操作简便,测量过程由微处理器控制,只要选择好合适的测量方式,数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。

  5、一体化机型,内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。

  6、仪器测量准确度高,可满足油介损测量要求,因此只需配备标准油杯,和专用测试线即可实现油介损测量。

  7、设CVT测试功能,可实现CVT的自激法测试,无需外置附件,一次测量C1,C2的电容和介损全部测出。

  8、反接线测试采用ivddv技术,消除了以往反接线数据不稳定的现象。

  9、具有反接线低压屏蔽功能,在220kVCVT 母线接地情况下,对C11 可进行不拆线10kV 反接线介损测量

  10、过流保护功能,在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

  全自动抗干扰异频介质损耗测试仪

  三、性能特点

  ■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进 ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

  四、简要介绍

  测试材料:

  无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

  半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

  其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

  介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

  磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

  半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

  液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

  全自动抗干扰异频介质损耗测试仪

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