J200 LIBS元素分析系统
技术背景
激光诱导击穿光谱法（LIBS）是一种快速化学分析技术，它使用短激光脉冲在样品表面上产生高能等离子体，在等离子体反应过程中，处于激发态的原子和离子的电子回迁至基态，导致等离子体发射出具有离散光谱峰的光，收集这些光进行光谱分析。元素周期表中的每个元素都与一个LIBS光谱峰相关，通过鉴定不同的光谱峰，可以快速确定样品化学组成，LIBS峰强度信息可用于量化样品中元素的浓度。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步，分析研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。
J200 LIBS元素分析系统基于30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统快速、可靠、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的各种应用环境。
系统功能
J200 LIBS元素分析系统为处理需高灵敏度和准确性的分析而设计，周期表中许多元素检测限可达ppm个位数。系统实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统设计确保每个激光脉冲的可重复测量结果。
J200 LIBS元素分析系统将LIBS技术和ICP-MS结合，将剥蚀出的固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更准确的分析，避免酸溶、消解等样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时提升元素检测限，实现宽范围的元素含量测量，还能进行元素空间分布制图（elements mapping)。此外，系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。
J200 LIBS元素分析系统目前已应用于美国劳伦斯伯克利实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室、巴西圣保罗大学、美国西北太平洋实验室等众多机构。
检测范围
J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤，植物，矿石、生物组织，刑侦材料（玻璃、油墨等），合金，半导体，绝缘体，塑料，薄涂层和电子材料等等。
检测元素种类具体包含：
常量元素N, P, K, Ca, Mg, S
微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl
痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素
有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等（其他技术难同时检测）
同位素（升级与ICP-MS 联用测量)
应用领域
常规土壤元素分析
土壤污染检测
刑侦微量物证分析
煤粉组分分析
矿物样品检测
生物组织分析
农产品分析
合金分析
宝石鉴定
各种材料分析等
可靠硬件
优化等离子体光收集，实现高灵敏度测量。
系统确保高准确性和可重复性。LIBS分析种提高LIBS数据精度的关键要求之一是激光始终如一的聚焦到样品表面。剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题。激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。这确保系统分析准确且可重复。
系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将固体样品剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系统，实现更准确分析。这弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上大多数ICP-MS联用。
系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。
系统的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪可根据样品的种类及用户研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。
系统具备双相机系统，分别用于广角成像整体观察样品确定采样区域，然后另一个成像系统放大样品区域进行采样。
激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（直径可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。
强大软件
系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。
ASI公司的TruLIBS数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS?数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。
系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。
数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。
J200的数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。
产地：美国
