自动变频介质损耗测试仪
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
五、随机配置
1、主机：1台
2、测试电极：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
六、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步进 | |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
自动变频介质损耗测试仪
5.1.1试样的几何形状
测定材料的电容率和介质损耗因数，zui好采用板状试样，也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时，的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。
需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF
加到试样上的电极
电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式
对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。
试样上不加电极
表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。
平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。
下面两种型式的电极装置特别合适.
自动变频介质损耗测试仪
三、性能特点
■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
四、简要介绍
测试材料：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
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