宽频介电阻抗谱仪
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准：
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法：
接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型：固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套，标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型：固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
六、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步进 | |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式（内阻为50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（选件） | ||
宽频介电阻抗谱仪
7.3测量
电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。
在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。
8.2介质损耗因数tanδ
介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。
8.3精度要求
在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。
在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。
对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能精确到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。
对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。
采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。
绝缘纸介电常数介质损耗测试仪9、试验报告
试验报告中应给出下列相关内容：
绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；
试样条件处理的方法和处理时间；
电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；
宽频介电阻抗谱仪
三、性能特点
■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
四、简要介绍
测试材料：
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
五、随机配置
1、主机：1台
2、测试电极：1套
3、数据线：1套
4、电源线：1根
5、合格证：一份
6、测试系统：一套
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