电容介电常数测试仪
GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪
满足标准：
GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法
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一、产品概述
本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。
本测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。
四、配套清单
序号 | 名称 | 数量 | 单位 |
1 | 介损自动测试仪 | 1 | 台 |
2 | 高压输出屏蔽电缆 | 1 | 根 |
3 | 试品输入电缆 | 1 | 根 |
4 | AC 220V/10A电源线 | 1 | 根 |
5 | 打印纸 | 2 | 卷 |
6 | 保险管5A | 4 | 支 |
7 | 接地线 | 1 | 根 |
8 | 出厂检验报告 | 1 | 份 |
9 | 产品说明书 | 1 | 份 |
五、电极选择
选择不同的电极测试固体和液体材料
1、 固体材料电极直径分别有:38mm 50mm 100mm,随机标配一套电极100MM
(也可以根据试样规格进行订制)
2、 测试液体需要容量为：15cm３
电容介电常数测试仪
高温介电测量系统用于高温下材料的介电性能测量与分析，包括介电常数、介质损耗、电容等参数。系统软件也可以测量其它阻抗参数。
系统使用平行电极方法测量介电参数，zui多可以同时测量四个样品，应用于绝缘材料产品的开发与检测，评估产品介电性能与温度的关系。
高温四探针测量系统;高温绝缘电阻测量系统 ,多工位玻璃试管旋转密封系统 ,气敏电阻测量系统, 多路油浴极化装置
温度特性评估
温度特性测试套件是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
功能特点： 可以通过与 Agilent 高频分析仪的完美结合达到极宽的频率范围； 能灵敏地测量极低电导率和极低损耗的材料； 具有极宽的阻抗分析范围;
可以在高温、宽频下测量各种固体样品的介电常数、介电损耗，电容 C ，损耗 D ，电感 L ，品质因数 Q ，阻抗 Z 等物理量；
电容介电常数测试仪
F型：除具备E型全部功能外，
（1）配置热敏打印机，使打印更加快捷、无噪音和清晰。
（2）增加回路接触**放电提示功能，以方便判别接线是否可靠。
（3）增强反接线低压屏蔽功能，可一次接线同时测出两个电容的电容量和介损值。
（4）增加CVT变比功能，可测量CVT变比和相位误差。
1.3供货范围
（1）仪器主机 （2）使用说明书和产品合格证
（3）专用测试电缆线 （4）电源线
（5）备用色带、打印纸和保险管 （6）其它详见《装箱单》
2. 变频介质损耗测试仪面板说明
2.1高压输出插座（0.5～10kV，*大200mA）
安装位置：箱体前侧面，外设保护门。
功 能：内高压输出；检测反接线试品电流；内部标准电容器的高压端。
电容介电常数测试仪
二、性能特点
1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。
2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。
3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。
4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。
5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。
三、技术指标
技术指标
1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）
2、相对湿度：20%～80%
3、供电电源：电压：220V±10%
4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm
5、重量：16kg
6、输出功率：1.5KVA
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：
tgδ：99.9%
Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF
2.5KV Cx＜0.3uF
0.5KV Cx＜1.5uF
外接试验电压：
由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%
电容容量（Cx）：1.5%±1pF
11、分辨率： tgδ：0.01%
Cx ：0.1pF
12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM
