低频介电常数测试仪
高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
一、满足标准:
GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、试验方法:
接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
三、性能特点
■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进 ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
六、技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
测试频率 | 20 Hz~2MHz,10mHz步进 | |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV~5V,±(10%+10mV) |
平 | f>1MHz | 10mV~1V,±(20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本准确度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ~ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ | |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ~ 99.999 S |
D | 0.0001 ~ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ~ 99999 | |
θ | -179.99°~ 179.99° | |
测量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 | |
等效方式 | 串联方式, 并联方式 | |
量程方式 | 自动, 保持 | |
显示方式 | 直读, Δ, Δ% | |
触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 | |
内部直流偏 | 电压模式 | -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式(内阻为50Ω) | -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 | |
显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB(选件) |
低频介电常数测试仪
工作原理
在交流电压作用下,电介质要消耗部分电能,这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时,电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ,Ψ的余角δ称为介质损耗角,δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn)和一被试回路(Cx),如图1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成,被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等,再由单片机运用数字化实时采集方法,通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。
测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。
控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。
变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。
升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压,zui大无功输出2KVA/1分钟。
标准电容器:内Cn,测量基准。
Cn电流检测:用于检测内标准电容器电流,10μA~1A。输入电阻<2Ω。
Cx正接线电流检测:只用于正接线测量,10μA~1A。输入电阻<2Ω。
Cx反接线电流检测:只用于反接线测量,10μA~1A。输入电阻<2Ω。
反接线数字隔离通讯:采用精密MPPM数字调制解调器,将反接线电流信号送到低压侧。隔离电压20KV。
低频介电常数测试仪
四、简要介绍
测试材料:
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
五、随机配置
1、主机:1台
2、测试电极:1套
3、数据线:1套
4、电源线:1根
5、合格证:一份
6、测试系统:一套
低频介电常数测试仪