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激光机芯片测试高低温冷热冲击试验箱

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TSB-50F-3P
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详细说明

  激光机芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  冷热冲击试验箱的结构特点

  ※箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,损伤简便。

  ※箱体内但采用进口不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。

  ※大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。

  ※试验箱采用整体式组合结构形式,既试验箱由位于上部的高温试验箱,位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜(系统)所组成.此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观,制冷机组置于独立的机组箱体内,以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响.

  ※箱体外壁材料:优质碳素钢板,表面作静电彩色喷塑处理.

  ※箱体内壁材料:进口SUS304不锈钢板,耐腐蚀、易清洗、美观大方.

  ※保温材料:优质超细玻璃纤维棉.

  ※样品架:上下移动滑轨导的不锈钢样品架.采用双作用力汽缸提供平稳均匀的动力,

激光机芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  激光机芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  设备特点:

  1.采用进的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线

  2.箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。

  3.可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。

  4.冷热冲击试验箱具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,完全有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.

激光机芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  制冷工作原理:高低制冷循环均采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。

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  技术参数:

  1.型号:TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35*30*35cm

  2.型号:TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40*35*35cm

  3.型号:TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40*50*50cm

  4.型号:TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60*50*50cm

  5.型号:TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm

  5.型号:TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm

  参数:

  一、高低温区温度范围:高温区部分:+80℃至+200℃。低温区部分:-10℃至-55℃。

  二、温度测试范围:高温:+60℃至+150℃。低温:0℃至-40℃。

  三、控制精度:+(-)2℃。

  四、解析精度:0.01℃。

  五、高温区升温时间:自常温至150℃,约60分钟。

  六、低温区降温时间:自常温至-40℃,约80分钟。

  七、冷热冲击试验箱测试区温度恢复时间:3-5分钟。

激光机芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  产品说明:

  是以待测物品不动之方式来测试因高低温急速变化而对产品是否造成不良的影响。冷热温冲击测试机用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式,区别在于试验方式和内部结构不同。一般用于电子部品、汽车零件及高科技产品等需要严苛的环境条件测试及高信赖性需求的检验!专业三厢式两箱式高低温冷热温度冲击检测仪器设备实验箱定做品牌制造商优质厂家,设备销往全国各省,服务着3000余家企业及质检单位!

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