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芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

芯片测试恒温恒温试验箱防滴水
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详细说明

  芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

  恒温恒湿试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.

  作室采用1mm厚SUS304不锈钢板制造,箱体外壳采用1mm厚不锈钢制造

芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

  芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

  主要特点

  1、完美的造型设计:圆弧造型及表面喷塑处理,高质感外观,并采用平面无反作用把手,操作容易,安全可靠。

  2、明亮,视野宽广的大型观察窗:采用三层真空镀膜视窗和飞利浦节能荧光灯,无须雨刷除雾,保持清晰的观测效果,可随时观察试品的状况。

  3、加湿系统管路与控制电路分离:加湿系统管路与电源、控制器、电路板分离,可避免因管路漏水而影响电路,提高安全性。

芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

  执行与满足标准

  1. GB/T10589-1989 低温试验箱技术条件

  2. 2. GB/T11158-1989 高温试验箱技术条件

  3. 3. GB/T10592-1989 高低温试验箱技术条件

  4. 4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1试验A规程: 低温试验方法

  5. 5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2试验B规程: 高温试验方法6. GB/T2423.22-1987试验Nb温度变化试验方法

  6. 7. GJB150.3-1986高温试验

  7. 8. GJB150.4-1986低温试验

  8. 9. IEC68-2-14 试验N

芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

  设备的型号:

  温度范围:-20℃——100℃

  温度波动度:±0.5℃

  温度均匀度:≤2.0℃

  温度偏差:正负1.0℃

  湿度范围:20——98%RH

  湿度波动度:±2.5%RH

  湿度均匀度:≤3.0%RH

  湿度偏差:小于等于±2.5%RH

  升温时间:每分钟约1.0℃~3.0℃

  降温时间:每分钟约0.7℃~1.2℃

  型号:SMA-36PF

  测试区尺寸:W300*D300*H400MM

  外箱尺寸约:W1000*D1000*H1000MM

  规格1000L

  型号说明SMA-010PF代表立式恒温恒湿试验箱

芯片测试恒温恒温试验箱防滴水

  使用条件:

  ☆环境温度:5℃~30℃、环境湿度:≤85%R.H。

  ☆机器放置前后左右各80公分不可放置东西。

  ☆免费送货上门,在对该设备安装调试结束后,对相关技术人员做相应的基本操作培训。

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