用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA 、 PCB 基扳、电子芯片 IC 、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化 , 调试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质 。
技术参数：
型号：TSB-100F-2P
标称容积：100L
试验方式：气动风门切换3温室方式
高温室性能：预热上限温度（+200℃）
高温室升温速率：（+70℃→+200℃≤20min）
低温室性能：预冷下限温度（-75℃）
低温室降温速率：（+70℃→-150℃≤80min）
试验室温度偏差：±2.0℃
试验室高温冲击范围：(+70℃→+150℃)
试验室低温冲击范围：(-10℃→-55℃)
试验室温度恢复时间：≤5min
试样篮高低温室转换时间：≤10s
外壳材料：防锈处理冷轧钢板+2688粉体涂装
机械钣金结构
全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间和参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。
产品保温效果可以得到充分保证。
试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。
在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。
我司提供各类环境试验设备，供各位新老客户选择，支持多样化定制产品：尺寸、试验条件、设计产品外形皆可！
提供售后服务，维修、检修、养护、试验运行等
低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。
进口采用触控式图控操作界面，操作筒易。
冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。
系统可作自动循环或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。
高温冲击或低温冲击时，时间可达999H，循环周期可达9999次。
冷却采复叠式二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。
高低温冲击试验箱执行与满足标准:
满足标准：
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；4、GJB150.5-86温度冲击试验；5、GJB360.7-87温度冲击试验；6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
