应力筛选试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、电工、电子产品、各种电子元器件在温度快速转变的情况下检验产品的各项性能指标。
采用根据画面显示，通过触摸画面即可轻松进行设定操作的10.4英寸大型彩色触摸屏计测装置。试验规格、试验区温度、温度循环，趋势图显示等一目了然，可记录90天的参数功能（相当于配备无纸记录仪）。
此设备分为高温区、低温区及测试区三部分，采用独特的断热结构及蓄热、蓄冷效果，采用冷热风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试.
采用原装日制微电脑大型液晶(320*240dots)中英文显示控制系统。
冷热冲击试验箱有高程式记忆容量，可设定储存100组程式，循环设定9999cycles,每段时间设定999Hrs59Mins.
具有RS-232C通信介面装置，可与电脑连线控制/编辑/记录及十组动态链接(TIMER SINGAL RELAY),使用便捷。执行冷热冲击条件时，可选择2 Zone 或3 Zone之功能。
具备全自动，高精度系统，任一机件动作，完全由P.L.C锁定处理。
产品用途：
TEB系列快速温变试验箱主要用于考察产品热机械性能引起的失效，温度变化率一般小于20℃/分，实现以快的速度真实再现所测样件应用环境条件。当构成产品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。
箱体结构：
1、试验箱结构形式：冷热冲击箱采用整体式组合结构形式，既试验箱由位于上部的高温试验箱，位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜(系统)所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于机组的安装和维修，电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。
