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高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击
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湖南 常德
详细说明

  高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

  冷热冲击试验机能模拟高温与低温之间的瞬间变化环境。从而判断产吕的可靠性及稳定性能等参数是否合格。将提供给您预测和改进产品的质量和可靠性依据。用于检测电子、汽车、橡胶、塑胶、航太科技及通信器材等产品在反复冷热变化下的抵抗能力。

高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

  高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

  结构特点:

  产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究。

  设备分为高温室、低温室、测试室三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

  采用触控式液晶(LCD)显示人机介面专用控制器,的计测装置, 操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。

  具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。

高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

  性能特点:

  1、气动式阀门方便开启,保证气密及断热保护;

  2、试验槽完全静止,可由测试孔外加负载配线;

  3、蓄能方式可避免使用者职业伤害;(注:液态气体所产生的废气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,而产生工作倦怠,注意力不集中等)

  4、温度控制精度高,全部采用PID自动演算控制;

  5、可选择始动位置,高温或低温开始循环;

  6、具有预约起动功能;

高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

  箱体左侧具50mm之测试孔1个,可供外加电源负载配线测试部件。

  可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,完全有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。

  独特的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性

  可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜

高低温冲击试验箱半导体测试温度冲击

  工作原理:

  1.低温储存箱:箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的工作状态决定。经过膨胀阀节流流出的制冷剂进入工作室内蒸发器后,吸收工作室内热量并气化,使工作室温度降低;气化后的工质被压缩机吸入并压缩成高温、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体,再经筛检程式,通过膨胀阀节流后,重新又进入工作室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。如此往复回圈工作,使工作室温度降到设置的温度要求

  2.高温储存箱:中央控制器从感温元件检测即时信号,与设定温度信号进行比较,得到比较信号,由仪表PID逻辑电路输出信号控制固态继电器的导通或关断的时间比例调节加热器输出功率大小,从而达到自动控温的目的。

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