快速冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA 、 PCB 基扳、电子芯片 IC 、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化 , 调试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质 , 从精密的 IC 到重机械的组件，无一不需要它的理想调试工具。
冷热冲击试验箱技术指标：
型号：TSE-252F-2P
1、内部尺寸：W700*D600*H600mm
2、外部尺寸：W1670*D2100*H2300mm
3、测试区温度范围：高温：+60℃～+180℃
4、低温：-10℃～-65℃(A：-45℃B：-55℃C：-65℃(高温区)升温时间：RT—200℃约需45min(低温区)降温时间：RT—-70℃约需90min
5、回复时间：5min内
6、温度稳定度：±0.2℃
控制系统：原装进口韩国TEMI系列控制系统
压缩机：
为了保证试验箱降温速率和温度的要求，本试验箱采用一套进口德国半封闭压缩机所组成的二元复叠式水冷制冷系统(需在室外安装每小时冷却水量为10吨的循环冷却水塔，由用户提供)。复叠式制冷系统包含一个高温制热循环和一个低温制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器是也到能量传递的作用，将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去，实现降温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术，一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节，使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。
标准及执行方法：
GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件；
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
GJB 150.3-86 军用设备环境试验方法 第3部分 高温试验；
GJB/T 150.4-86 军用设备环境试验方法 第4部分 低温试验；
GJB/T 150.5-86 军用设备环境试验方法 第5部分 温度冲击试验。
