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实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

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详细说明

  实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  温度控制器:日本原装进口OYO可编程液晶触摸屏温度控制器

  温度传感器:Pt100铂电阻

  安全保护措施:超温、过载、超压、漏电、短路、电源缺相、错相等保护

  高低温冷热冲击试验箱主要测试材料对温或极低温的抵抗力,这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形,冷热冲击试验能使各种物品在短的时间内完成测试。

实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

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  GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法

  GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法

  GB-T10592-2008高低温箱技术条件

  GJB150.3-1986军用设备环境试验方法:高温试验

  GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求

实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  A. 高低温区温度范围:

  1. 高温区部份: 60 ℃ – 180 ℃

  2. 低温区部份: -10 ℃ – -70 ℃

  B. 温度测试范围:

  1. 高温: 60 ℃ – 120 ℃

  2. 低温: – 10 ℃ – - 55 ℃

  C. 解析精度: 0.1 ℃

  D. 控制精度: ± 1 ℃

  E. 分布均度: ± 3 ℃

  F。高温区升温时间: 自常温至180 ℃ 约50 分钟

  G. 低温区降温时间: 自常温至-70 ℃ 约60 分钟

  H. 测试区温度恢复时间: 约3 TO10 分钟

实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  运行控制系统

  1、钣金:内箱材质:镜面不锈钢板(SUS304,1.0mm厚),外箱材质: 不锈钢(1.0mm厚)。

  2、保温材质:高温槽: 24k玻璃棉,低温槽: 聚胺脂硬质发泡+玻璃棉。

  3、加热器:鳍片式散热管镍铬合金U型加热器,自动演算高精确PID+SSR控制(演算周期:1~4S可设),使其热损耗量与加热量相当,故比传统ON/OFF控制省电约30%。

  4、送风循环系统:台制马达2台,附不锈钢加长轴心;多翼式扇叶(SIROCCO FAN);台制离心排风机一台。

  5、温度冲击执行机构:采用台湾压德克全套原装进口气动组件。

实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

实验室芯片测试高低温冷热冲击试验箱

  新能源冷热冲击试验箱是给工业产品、电子产品做高低温温度冲击实验用的所以还可以叫温度冲击实验箱或者高低温冲击实验箱。温度冲击箱工作原理是由测试室、高温室和低温室组成。试品放置于测试室,高温室和低温室内不可放置试品只是储存不同的温度用来做产品冲击时用。高温室内的空气预热到一定的高温温度;低温室内的空气预冷到一定的低温温度。当进行低温的冲击试验时,低温室将预冷的温度通过空气吹入测试室;当进行高温的冲击试验时,高温室将预热的温度通过空气吹入测试室;这样则能达到不同的温度冲击试验的效果。

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