塞贝克系数/电阻测量系统

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品　　牌：ADVANCE RIKO

产品型号：ZEM-3

制造厂商：日本ADVANCE RIKO公司

适用范围：高教

所在地区：日本

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM

——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻

产品介绍：

　　塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

产品特点：

　　■  拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;

　　■  测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势;

　　■  欧姆接触自动检测功能(V-I图);

　　■  可以用适配器来测量薄膜;

　　■  可定制高阻型。

产品结构：

样品腔部分：

工作原理图：

应用方向：

　　对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

可选功能：

　　1. 薄膜测量选件　　

　　2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)

　　3.高阻选件(高到10MΩ;)

参数配置：

附：

热电材料/器件测试设备

测试数据

烧结P型Si₈₀Ge₂₀塞贝克系数及电阻率测量结果

发表文章

　　1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

　　2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

　　3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

　　4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

　　5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

用户单位

　　清华大学

　　中国科学技术大学

　　上海交通大学

　　复旦大学

　　南方科技大学

　　武汉理工大学

　　中国科学院上海硅酸盐研究所

　　中国科学院大连化学物理研究所