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北京西润斯
xrs-ZCR-I/II
详细说明
本装置采用单片机程序控温。测量参比物和物质在物理或化学作用下所产生的热效应（吸热或放热）以及相对温度变化。
装置组成及特点：
* ZCR差热实验仪
* 差热实验炉
1、温度范围：室温～1100℃
2、温度分辨率：0.1℃
3、控温速率：1～20℃/min
4、程序方式：微型处理器程序控制PID
5、DTA分辨率：1uV
6、DTA量程：0～2000uV（不分档）
7、DSC方式数据采集分析（I型）
8、DSC范围（I型）：1mW～±100mW
9、DSC解析度（I型）：10uW
10、输出方式：计算机、打印机系统
11、自带降温功能
注：气氛装置（选配）
