产品简介：引伸计标定仪是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762-2007引伸计检定规程及JJF1096-2002引伸计标定器校准规范的要求，用于对引伸计的标定，也用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。参照标准：JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定JJG762-2007 引伸计检定规程可进行0.5引伸计的标定结构特点及读数方式：1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试需要，配置配件进行精密微变形量计量。2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程25mm；小分度（游标分度）0.0002mm；旋转外筒分度0.002mm。 位移变化读数为： L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0） 其中：a－内筒毫米刻线读数 b－外筒刻线读数 c－游标刻线读数 a0，b0，c0 为相应位移变化前读数参数：测量引伸计标距范围：Lmax 500mm测量支座上支臂安装孔径：φ10；φ28微分测头读数内筒轴向刻度：0.5mm/格微分测头读数内筒游标刻度：0.0002mm/格微分测头读数外筒圆周刻度：0.002mm/格高精密微分测头精度示值误差指标量程0.5mm以内≤0.5μm 误差量程0.5mm以上≤0.10% 逐点相对误差使用说明请依据JJG762－92引伸计检定规程及JJF1096-2002引伸计标定器校准规范的要求，进行引伸计的检定：1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格，选择与测试试样基本一致的分离试样。2、调整两测量支臂的位置，获得适宜的检定空间；调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样同轴；调整测微头与下底座的距离，以测微头的行程。调整好后注意旋紧个所需固紧部位，在检定过程中除准许运动位移的部分外，都不准许有滑动或松动。3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试：（1）检定范围应根据引伸计需要测试材料的参数决定。例如，使用50mm标距引伸计测试钢材试样的σP0.2数据，那么请您选择1mm的检定量程。如果测量n值则需要检定25mm的检定量程。（2）对检定点的选择，一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1mm的检定量程内，检定10点，即每0.1mm检一点。（3）检定引伸计时用整数刻度倍读法，不要用游标估算读数或小数尾数读数，因为每的十点读数已造成了读数的疲劳，估算读数或小数尾数读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法清晰简单准确，出现误差的机率小，即便出现也会及时发现，因为整数刻度倍读数的误差，其引伸计误差值也会成倍数增加，这种粗大误差会被很快及时发现。4、加长立柱的使用：在使用基本立柱检定引伸计时，无法该引伸计的标距空间时，取掉基本立柱上保护帽，将加长立柱插入主立柱对准V型槽，旋紧上螺丝。要固紧后，方可使用。测量附件：组合校准杆2件。用于组合多种模拟分离试样。刀片4件。装置于组合校准杆上：用于COD或JIC夹规检定。横试片2件。装置于组合校准杆上：用于横向引伸计的检定。板件2件。装置于组合校准杆上：用于模拟板材试样的检定。φ10×100杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟10mm以上直径试样的检定。φ10×50杆件1件。置于测微头连接套内用于模拟10mm以上直径试样的检定。φ10/φ5×100变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5mm以下直径试样的检定。φ10/φ5×50变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5mm以下直径试样的检定。170mm加长立柱1件。用于延长标定仪高度。联接套1件。置于微分测头滑动量杆φ10端头上，连接分离试样进行检定。为调试及安装方便，随仪器配有14号呆扳手一把、3号内六角扳手一把、一字头、十字头螺丝刀一把。维护与保养：1、上、下支臂拆装时，应止定位钉或钢球的脱落，抱紧卡口过紧只允许用螺钉顶开。2、仪器出厂时微分头精度已调校，使用中不得自行拆卸。3、应在清洁环境使用，并注意保持仪的清洁。4、注意止外力损伤及锈蚀的产生。
