详细说明
二极管、三极管和IC的ESD测试
（电子元器件静电放电敏感度分类试验专用）
一、概述
二极管、三极管和集成电路等电子元器件静电放电敏感度要用国际先进水平的EST883静电放电模拟器，它是是专门为测量元器件的静电放电模拟器，它输出电压范围宽（1V～±20kV)，是世界上宽和电压的静电放电模拟器，民用，军用，精度高(1%),分辨率高(1V),其输出电压和波形符合美国军用标准MIL-STD 微电子器件试验方法和程序静电放电敏感度分类标准要求、军标GJB微电子器件试验方法和程序静电放电敏感度分类标准要求、ESD协会、JEDEC等标准的半导体分立器件试验方法 静电放电敏感度试验。
EST883A静电放电模拟器，符合国内外所有的HBM和MM试验标准*，测试能力从二极管、三极管到各种IC，核心技术和器件从美国引进，使您不但能得到技术水平优于或达到国际先进水平的静电放电模拟器，还能得到美国NARTE认证ESD工程师（Professional EMC/ESD Consultant)提供的免费技术咨询和技术支持,是国内外目前性能价格比和技术支持的静电放电模拟器。
二、技术指标
测试能力：各类二极管、三极管到各种IC，内置试验板(IC test board)
放电网络：储能电容：100 pF
放电电阻：1500 Ω
充电电阻： 106～107Ω
输出电压：±1V ～±20KV 连续可调（世界上宽和电压的静电放电模拟器，民用，军用）
内置4个级别试验电压
输出电压示值的容许偏差： <±1% （1～±20KV）
输出电压稳定性: 0.5% (24小时）
电压显示：分辨率:1V
输出电压极性：正和负极性（可带电直接切换） 放电电流波形：
Tri(上升时间）：小于10ns
Tdi(衰减时间）：150±20ns
Ip(峰值电流）：见表1中所选电压等级对应的Ip±10%内
Ir(振荡电流):小于Ip的15%，脉冲100ns后观察不到
HBM MM
(MIL-STD-883E和GJB548A-97 方法3015)
放电操作方式：放电间隔：1P/S(1秒1次自动)，自动连续放电：1～10秒一次连续可调和手动单次任意时间间隔放电(1P)
工作环境：温度5-40℃；相对湿度20-80%，无凝露；气压68-106kPa
供电： AC85V～260V, 50/60Hz
（*）可根据用户订做其它模型或其它特殊要求模型的储能电容、放电电阻和充电电阻要求的静电放电模拟器
