摘要：用光学方法和衍射光栅元件测量固体的变形。本发明为用于云纹干涉法的位相型闪耀衍射光栅。其光栅波形为等腰三角形，用刻线机刻制光栅模板。采用试件栅的制备工艺，将模板栅线波形复制在构件表面上，形成试件栅。根据需要可选择不同等腰三角形的斜面倾角β和光栅节距P，使对称入射的两相干准直光在所需要的±m衍射级上进行闪耀，使在该衍射级上获得最大光强，且光强比接近于1，以获得高灵敏度，高反差的云纹干涉条纹图。此法为光测力学开辟了新的途径。
- 专利类型发明专利
- 申请人清华大学;北京光学仪器厂;
- 发明人傅承诵;吴振华;戴福隆;
- 地址北京市海淀区清华园
- 申请号CN85100054
- 申请时间1985年04月01日
- 申请公布号CN85100054A
- 申请公布时间1986年08月06日
- 分类号G02B5/18;
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