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表面污染测量仪
摘要:
专利类型
外观专利
申请人
中国辐射防护研究院;
发明人
刘长明;陈 昶;杜向阳;刘 芸;韩淑萍;刘正山;孟 丹;任 熠;宋称心;
地址
030006山西省太原市学府街102号
申请号
CN200630128425.7
申请时间
2006年08月08日
申请公布号
CN3654325D
申请公布时间
2007年06月06日
分类号
10-04;
该申请人其他专利(共359)
辐射探测器无源效率刻度的方法
基因重组技术制备PGRP
(31-98)
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