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    双光束紫外可见分光光度计

    　　摘要：
    • 专利类型外观专利
    • 申请人上海光谱仪器有限公司;
    • 发明人陈建钢;
    • 地址200233 上海市宜山路705号科技大厦C座10楼
    • 申请号CN200330107937.1
    • 申请时间2003年11月06日
    • 申请公布号CN3379085D
    • 申请公布时间2004年07月14日
    • 分类号10-04;