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紫外可见分光光度计
摘要:
专利类型
外观专利
申请人
上海光谱仪器有限公司;
发明人
陈建钢;
地址
200233上海市宜山路705号科技大厦C座10楼
申请号
CN03330725.3
申请时间
2003年05月16日
申请公布号
CN3338891D
申请公布时间
2003年12月03日
分类号
10-04;
该申请人其他专利(共77)
一种微型全分析系统芯片高度定位方法
一种光谱仪杂散光自动检测和动态扣除的方法及光谱仪器
一种石墨管保护套置于磁场内的塞曼石墨炉结构
一种可拆卸的交流塞曼石墨炉原子化器
一种高性能脉冲氙灯比例监视双光束紫外可见分光光度计
一种微型全分析系统芯片高度定位方法
一种全波段的CCD检测器性能评价装置
一种光学参数绝对值测量仪及其测量方法
双光束紫外可见分光光度计
一种脉冲辐射检测电路
该分类其它专利(共685)
IC卡干电池超声波热量表
50米跑测试仪
pH计(PHS-3C)
半球积分球测量装置
崩解仪(三杯)
笔形万用表(MS8213)
测距仪
波长色散X射线荧光光谱仪(WDX400)
背力测试仪
表面污染测量仪
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