摘要：1、本外观设计产品的名称：常温薄膜热电参数测试系统。2、本外观设计产品的用途：用于测试薄膜热电材料的赛贝克系数及电阻率。3、本外观设计产品的要点：整个产品的外部形状。4、最能表现设计要点的图片或照片：主视图。
- 专利类型外观专利
- 申请人武汉嘉仪通科技有限公司;
- 发明人王愿兵;吴燕雄;张雨;蔡颖锐;
- 地址430075 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来科技城起步区A5北4号楼11层
- 申请号CN201630081953.5
- 申请时间2016年03月21日
- 申请公布号CN303814803S
- 申请公布时间2016年08月24日
- 分类号10-05(10);
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