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    电磁辐射分析仪天线(SEM-3006)

      摘要:1.本外观设计产品的名称:电磁辐射分析仪天线(SEM-3006)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品主要用作电磁辐射分析仪的天线,以便接收信号。3.本外观设计产品的设计要点:在于产品的形状、图案以及结合。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图1。
    • 专利类型外观专利
    • 申请人北京森馥科技股份有限公司;
    • 发明人陆德坚;李京超;薛欢;张立垚;
    • 地址100020 北京市朝阳区利泽中二路1号517室
    • 申请号CN201530362630.9
    • 申请时间2015年09月18日
    • 申请公布号CN303585419S
    • 申请公布时间2016年02月10日
    • 分类号14-03(10);