摘要:1.本外观设计产品的名称:探针台(PT-501A)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于半导体GPP芯片的测试,适用于生产此类产品的晶圆测试生产线或代工测试厂。3.本外观设计产品的设计要点:在于产品形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:主视图。
- 专利类型外观专利
- 申请人深圳市矽电半导体设备有限公司;
- 发明人刘振辉;杨波;
- 地址518000 广东省深圳市龙岗中心城清林西路龙城工业园E栋创业大厦二层
- 申请号CN201430285155.5
- 申请时间2014年08月12日
- 申请公布号CN303133126S
- 申请公布时间2015年03月18日
- 分类号10-05(9);