摘要：1．本外观设计产品的名称：半自动快速探针台（PT-301II）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于6英寸半导体晶圆IC芯片的单芯多层级测试。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：主视图。
- 专利类型外观专利
- 申请人深圳市矽电半导体设备有限公司;
- 发明人杨应俊;沈杰;杨波;
- 地址518000 广东省深圳市龙岗中心城清林西路龙城工业园E栋创业大厦二层
- 申请号CN201430280420.0
- 申请时间2014年08月08日
- 申请公布号CN303133120S
- 申请公布时间2015年03月18日
- 分类号10-05(9);
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