摘要：1.本外观设计产品名称为比表面及孔径分析仪；2.本外观设计产品用来检测与分析微纳米粉体材料的表面特征；3.本外观设计产品设计要点：本外观设计要点在于产品的整体造型；4.本外观设计产品指定主视图为授权后公告视图。
- 专利类型外观专利
- 申请人北京精微高博科学技术有限公司;
- 发明人钟家湘;赵青力;张毅;
- 地址100055 北京市西城区广安门外南滨河路23号1号楼2206
- 申请号CN201330617931.2
- 申请时间2013年12月12日
- 申请公布号CN302819776S
- 申请公布时间2014年05月14日
- 分类号10-05;
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