摘要：1．本外观设计产品的名称：X射线荧光光谱仪（E9）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于用于获得试样X射线光谱，并测量谱线的位置和强度。3．本外观设计产品的设计要点：形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。
- 专利类型外观专利
- 申请人深圳市禾苗分析仪器有限公司;
- 发明人杨宁波;
- 地址518000 广东省深圳市南山区南头关口二路智恒战略性新兴产业园（原安乐工业区综合楼）27栋2楼B
- 申请号CN201330322941.3
- 申请时间2013年07月11日
- 申请公布号CN302679619S
- 申请公布时间2013年12月11日
- 分类号10-04;
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