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    X荧光分析仪(1)

      摘要:1.本外观设计产品的名称:X荧光分析仪(1);2.本外观设计产品的用途:X荧光分析仪;3.本外观设计的设计要点:在于产品的形状;4.最能表明设计要点的图片或者照片:在于主视图;5.后视图无设计要点,故省略。
    • 专利类型外观专利
    • 申请人南京大展机电技术研究所;
    • 发明人陶银武;
    • 地址211102 江苏省南京市江宁区清水亭西路2号百家湖科技产业园B区16-2
    • 申请号CN201230619073.0
    • 申请时间2012年12月11日
    • 申请公布号CN302422433S
    • 申请公布时间2013年05月01日
    • 分类号10-05;