摘要：1．本外观设计产品的名称：X荧光分析仪（1）；2．本外观设计产品的用途：X荧光分析仪；3．本外观设计的设计要点：在于产品的形状；4．最能表明设计要点的图片或者照片：在于主视图；5．后视图无设计要点，故省略。
- 专利类型外观专利
- 申请人南京大展机电技术研究所;
- 发明人陶银武;
- 地址211102 江苏省南京市江宁区清水亭西路2号百家湖科技产业园B区16-2
- 申请号CN201230619073.0
- 申请时间2012年12月11日
- 申请公布号CN302422433S
- 申请公布时间2013年05月01日
- 分类号10-05;
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