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儿童智商智力测试仪
摘要:
本外观设计用于测量儿童的智商智力。
专利类型
外观专利
申请人
北京鸿慈童康科技发展中心;
发明人
陈飞扬;
地址
100025 北京市朝阳区东四环中路远洋国际中心D座2603室
申请号
CN200930286671.9
申请时间
2009年12月25日
申请公布号
CN301330594S
申请公布时间
2010年08月25日
分类号
24-01;
该申请人其他专利(共2)
超声波测量身高体重的装置
儿童综合素质测试仪
该分类其它专利(共526)
CT机
B超机(便携式)
X荧光光谱仪
PCR仪(薄型)
巴氏杀菌机
棒框仪(智能心理品质)
比色箱(JQ-9)
便携式智能身心反馈训练仪
壁挂式全科诊断仪
波长色散X射线荧光光谱仪
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