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    儿童智商智力测试仪

      摘要:本外观设计用于测量儿童的智商智力。
    • 专利类型外观专利
    • 申请人北京鸿慈童康科技发展中心;
    • 发明人陈飞扬;
    • 地址100025 北京市朝阳区东四环中路远洋国际中心D座2603室
    • 申请号CN200930286671.9
    • 申请时间2009年12月25日
    • 申请公布号CN301330594S
    • 申请公布时间2010年08月25日
    • 分类号24-01;