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波长色散X射线荧光光谱仪(WDX400)
摘要:
专利类型
外观专利
申请人
江苏天瑞仪器股份有限公司;
发明人
应 刚;唐勇刚;
地址
215347江苏省昆山市苇城南路1666号清华科技园天瑞大厦
申请号
CN200830231141.X
申请时间
2008年09月22日
申请公布号
CN301134139D
申请公布时间
2010年02月10日
分类号
10-04;
该申请人其他专利(共385)
一种用于光谱检测具有分度机构的晶体切换装置
用于解析离子源进样装置的XY移动平台
一种绘制区域颗粒物小时浓度分布图的方法
一种单一准直食品重金属检测仪
一种矿浆压力取样器
一种用于光谱检测晶体切换装置
一种质谱仪用户可调的检测器信号处理部件
手持式X荧光光谱仪
一种X荧光光谱分析自动标定装置
气相质谱仪(MS5400)
该分类其它专利(共685)
IC卡干电池超声波热量表
50米跑测试仪
pH计(PHS-3C)
半球积分球测量装置
崩解仪(三杯)
笔形万用表(MS8213)
测距仪
背力测试仪
表面污染测量仪
测距仪
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