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儿童综合素质测试仪
摘要:
专利类型
外观专利
申请人
北京鸿慈童康科技发展中心;
发明人
陈飞扬;
地址
100025北京市朝阳区东四环中路62号2603室
申请号
CN200830251197.1
申请时间
2008年11月26日
申请公布号
CN301063141D
申请公布时间
2009年11月18日
分类号
24-01;
该申请人其他专利(共2)
儿童智商智力测试仪
超声波测量身高体重的装置
该分类其它专利(共526)
CT机
B超机(便携式)
X荧光光谱仪
PCR仪(薄型)
巴氏杀菌机
棒框仪(智能心理品质)
比色箱(JQ-9)
便携式智能身心反馈训练仪
壁挂式全科诊断仪
波长色散X射线荧光光谱仪
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