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电子分析天平(新型)
摘要:
请求保护色彩。
专利类型
外观专利
申请人
天津市华北实验仪器有限公司;
发明人
岳春立;
地址
300380天津市西青区张家窝工业园丰腾道4号
申请号
CN200830082793.1
申请时间
2008年08月18日
申请公布号
CN300984954D
申请公布时间
2009年08月19日
分类号
10-04;
该申请人其他专利(共5)
生化培养箱(新型)
新型节能电热板(方型)
节能电热板(圆型)
干燥机
一种热循环式干燥机
该分类其它专利(共685)
IC卡干电池超声波热量表
50米跑测试仪
pH计(PHS-3C)
半球积分球测量装置
崩解仪(三杯)
笔形万用表(MS8213)
测距仪
波长色散X射线荧光光谱仪(WDX400)
背力测试仪
表面污染测量仪
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