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    能量色散X荧光分析仪

    　　摘要：底面不常见，省略仰视图。
    • 专利类型外观专利
    • 申请人深圳市华唯计量技术开发有限公司;
    • 发明人殷家祥;
    • 地址518000广东省深圳市南山区桃源平山A号民企科技园4栋4楼西
    • 申请号CN200730170771.6
    • 申请时间2007年06月28日
    • 申请公布号CN300806632D
    • 申请公布时间2008年07月23日
    • 分类号10-05;