摘要：本实用新型涉及一种采用双波长结构光测量物体轮廓的装置，属于光学测量技术领域。本装置包括：投影仪，与计算机相连接，用于产生一束经正弦调制后的白光，照相机，与计算机相连接，用于拍摄在上述白光的照明光场中待测物体的图像，照相机与投影仪的连线与所述的参考平面平行，投影仪和照相机与参考平面之间的距离为L，投影仪与照相机之间的距离为d，计算机，用于控制投影仪产生具有特定结构的白光，并接收照相机拍摄的图像后进行处理。本实用新型的提出的装置，可以测量表面形状比已有技术更加复杂的物体，而且测量精度高于已有技术。
- 专利类型实用新型
- 申请人清华紫光股份有限公司;
- 发明人高宏;辛建波;
- 地址100084北京市海淀区清华园清华大学紫光大楼
- 申请号CN200520147052.8
- 申请时间2005年12月29日
- 申请公布号CN2856928Y
- 申请公布时间2007年01月10日
- 分类号G01B11/24(2006.01);G01B11/25(2006.01);
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