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    覆层测厚仪

      摘要:本实用新型有关一种覆层测厚仪,包括有壳体、测头、测量电路、控制模块和显示模块,所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外,用以与被测量表面接触;所述测量电路位于壳体内,与所述测头电连接,接收测头的输入信号并输出信号给控制模块;所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路;所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接,接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号,并经内部计算转换为一测量数据,输出给显示模块;所述显示模块接收所述控制模块的输出信号,并在一显示器上显示出测量数据。
    • 专利类型实用新型
    • 申请人北京时代之峰科技有限公司;
    • 发明人吕旭志;陈翠兰;
    • 地址100085北京市海淀区上地西路28号1幢二层
    • 申请号CN200520114110.7
    • 申请时间2005年07月15日
    • 申请公布号CN2833511Y
    • 申请公布时间2006年11月01日
    • 分类号G01B7/06(2006.01);